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芯联集成“半导体器件及其制备方法”专利公布

       
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天眼查显示,芯联集成电路制造股份有限公司“半导体器件及其制备方法”专利公布,申请公布日为2024年9月24日,申请公布号为cn118692929a。

芯联集成“半导体器件及其制备方法”专利公布

本申请公开了q _ z N m h一种半导体器件及其制备方法,其制备方法如下:

  1. 提供第一晶圆,并在其第一键合面上形成第一金属密封环,该密封环外侧间y M q } , J I K隔设置至少三9 @ q u x Q % g个第一凹槽。
  2. 提供第二晶圆,并在其第二键合面上形成与第一金属密封; q ` A o 0 f环形状匹配的第二金属密封环,该密封环外侧间隔设置至少三个第二凹槽。
  3. 使用隔片间隔第一晶圆和第二晶圆,并使用固定件固定晶圆。
  4. 将第一晶圆q r } t 6、第二晶圆、固定件和隔片整体放入键合腔室,并控制腔室达到预设真空度和气体氛围。
  5. 对第一金属密封环和第二金属密封环预热。
  6. 移去隔片,键合第一金属密封环和第二金属密封环。

采用本申请的技术方案,可以t b m现更佳的键合效果。

以上就k [ b | C V J是芯联集成“半导# l } R @体器件及其制备方法”专利公布的详细内容!

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